InAs(001)吸附表面的不可逆重构相变研究
对气体降解了广泛As的InAs(001)样机通过升降调节热温清理,发现在485e时表层有从(3×1)重新构建到(2×4)重新构建的无法对抗增值象。使用扫码隧洞光学显微镜对(3×1)重新构建表层进行分析,报告显示广泛常温下气体降解的As从表层脱附使InAs(001)(2×4)重新构建表层最顶楼的Asdimer也一件分开表层,(3×1)重新构建表层现实上是由20%的富As(2×4)重新构建板块与80%的富In(4×2)重新构建板块组合而成。无法逆相变是因此As束流能提供的As4原子结构团气体降解到富In板块,使样机表层灰复到(2×4)重新构建相,而(2×4)重新构建相能在390~490℃温范围之内内平衡具有。 光电器件行业技术的文件有所是 2代光电器件行业技术的文件,时间推移其高手机转化率、间带隙的性,有时候被时用建设高速度元配件封装和光手机元配件封装。时间推移对元配件封装中大型化另外 元配件封装安全性能追求的持续不断加快,特定的对建设元配件封装的的文件的外外层得到更高些的追求。故而,长期性一来Ó-Õ光电器件行业技术的文件的外外层形貌与外外层相空间的调查长期接受在中国外的尊重。GaAs有所是 Ó-Õ光电器件行业技术的文件最典型的的体现,其中是调查的热点事件,调查师对GaAs(001)外外层相空间相已作了进入的调查与科学探索,特意是对富As的GaAs(001)外外层的C(4×4)与B2(2×4)的高判定定量分析的发现,新风系统的相空间建模的法律纠纷已核心祛除。所以,对InAs(001)外外层相空间的调查宣传新闻报导并有限见,另外InAs(001)与GaAs(001)外外层相空间相另外 相空间相间的塑造成发生着非常多异。假如:InAs外外层发生A2(2×4),而GaAs不发生;InAs从As暂停的(2×4)外外层塑造成为铟暂停的(4×2)外外层是飞速的另外不可避免滞回状况,而GaAs从B2(2×4)外外层塑造成到(4×2)外外层是渐变背景的,当中下有个衔接的(3×1)相空间相。这两天,并于富铟的InAs(001)外外层的高判定定量分析也见宣传新闻报导。 论文采取反射层式较高能电子器材衍射仪(Reflection High Energy Electron Diffraction,RHEED)对InAs(001)吸出外壁开始测量,遇到外壁(3×1)与(2×4)抽象化间具有不要逆的相变时候。采取扫描仪扫描铁路桥电子显微镜(Scanning Tunneling Microscope,STM)对外壁开始定性分析,阐明此相转现象与外壁所吸出的As氧原子团的脱附时候相应。
1、实验
本实验在Omicron超高真空(极限真空可达5.32×10-9 Pa)的分子束外延(MolecularBeamEp-itaxy,MBE)设备中进行,衬底为AXT可直接外延InAs(001)外延片。通过MBE方法制备好表面原子级平坦的InAs(001)样品,将样品置于常温下真空度约为2.66×10-9 Pa的MBE真空室中24h。对样品缓慢升温(10e/min)至400℃,并在样品温度到达400℃时逐步开启As束流(达到6162×10-4 Pa并保持不变)保护样品表面,然后继续缓慢升温(每次升温5~10℃,升温后停留5min)至500℃,最后缓慢降温至室温,整个过程均使用RHEED实时监测并记录。通过以上途径选择在升温到475℃,得到稳定的(3×1)重构后淬火至室温,并将样品传送至与MBE生长室相接的超高真空STM扫描室进行分析。
2、结果与讨论
2.1、RHEED分折外表相变步骤 储放于抽真空室中的备样糊口长完毕后,热处理至高温的InAs(001)备样,储放的时候从到高温始于计算的。储放很久的备样表层经过RHEED与STM的表现,其結果表明备样的表层水分子级平淡且为十分洗涤的表层。如同1随时,(a)RHEED衍射图清新地出现表层呈(2×4)构建,(b)为表层1000nm×1000nm的STM扫码图,单双层台阶高度长宽比少于200nm,(c)为表层50nm×50nm的STM扫码图,可能签别出二聚体排(Dimerrow)想着[110]晶向,表层被B2(2×4)与A2(2×4)构建就会占有,表层全是些非时间段性的就会占有沟道和Dimerrow顶端的疵点来源于(STM图下的突出空间结构),以下疵点由热处理气温与As束视频流量的大小决定的,并不热处理环节和传大环节中粘附到表层的水分子造的。














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