超薄钼箔表面CVD金刚石薄膜残余应力的研究

2013-04-20 龙 芬 中南大学材料科学与工程学院

超薄钼箔表面CVD金刚石薄膜残余应力的研究

龙 芬1 余志明1,2 魏秋平1,2

1.东南大专管理科学课与建设工程基地;2.东南大专粉尘冶金行业地区侧重点实验英文室   前言:进行期性电磁波助手热丝化学物质液相沉淀积累法,以丁烷和氡气为化学反应其他气体,在厚为40μm 的钼箔单单从外表沉淀积累金刚石pe膜,论述了沉淀积累工作高温600℃时有所不一沉淀积累時间(3,4.5,8 h)和沉淀积累工作高温760℃时有所不一沉淀积累時间(2,3,5 h)下pe膜残留物压力的状态下;同时剖析了有所不一沉淀积累工作高温(680℃,760℃,840℃)沉淀积累2 h 时pe膜本征压力的发生改变周期性。进行场放出扫描机微电子体视显微镜、激光行业Raman 光谱仪仪、X 放射线衍射仪、能谱仪剖析了金刚石pe膜的单单从外表形貌、微格局和残留物压力。   报告单表述,钼箔漆层建立了维持紧密的金刚石膜,塑料透气膜的多余弯曲刚度体现为压弯曲刚度,且随的堆积事件提升,压弯曲刚度值减慢;Raman 光谱图仪仪法和X 放X放射线法检测的的塑料透气膜多余弯曲刚度随的堆积事件的改变的趋势相一致,Raman 光谱图仪仪法检测的的弯曲刚度指标值-5.17~-3.67 GPa,X 放X放射线检测的法的弯曲刚度值在-21.68~-10.26 GPa 标准内,X 放X放射线法检测的的弯曲刚度值比之Raman 光谱图仪仪法要大4~5 倍。   小编采用实验性所得税胶片残留物压力值较参考文献值大,采用X X射线物相和能谱仪的元素讲解得知,建立方式中在膜基界面显示处建立了Mo2C,Mo2C 的热增长因子较基体大,提升了胶片的热压力,不仅而且,在基体较薄,易开裂,而金刚石根本无法也随之发现塑性变形,能让胶片的压力提升;金刚石胶片的本征压力情况为压压力,随建立湿度的增高压压力值扩大。   要点词:箔材 金刚石膜 X X射线衍射 Raman 光谱分析 残留物应力应变